Puntos críticos y simetrías en problemas elípticos

  • Jaime Arango Universidad del Valle, Departamento de Matemáticas, Cali, Colombia.
  • Juan Jiménez Universidad del Valle, Departamento de Matemáticas, Cali, Colombia
  • Andrés Salazar Universidad Javeriana Cali, Departamento de Ciencias Naturales y Matemáticas, Cali, Colombia

Resumen

Se estima una cota superior para el número de puntos críticos de la solución de un problema semilineal elíptico con condición de Dirichlet nula en el borde de un dominio planar. El resultado se obtiene en dominios simétricos con respecto a una recta y convexos en la dirección ortogonal a la misma.


MSC2010: 35J25, 35J91, 74K15.

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Biografía del autor

Jaime Arango, Universidad del Valle, Departamento de Matemáticas, Cali, Colombia.

Universidad del Valle, Departamento de Matemáticas, Cali, Colombia.

Juan Jiménez, Universidad del Valle, Departamento de Matemáticas, Cali, Colombia

Universidad del Valle, Departamento de Matemáticas, Cali, Colombia

Andrés Salazar, Universidad Javeriana Cali, Departamento de Ciencias Naturales y Matemáticas, Cali, Colombia

Universidad Javeriana Cali, Departamento de Ciencias Naturales y Matemáticas, Cali, Colombia

Citas

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Publicado
2017-08-08
Cómo citar
ARANGO, Jaime; JIMÉNEZ, Juan; SALAZAR, Andrés. Puntos críticos y simetrías en problemas elípticos. REVISTA INTEGRACIÓN, [S.l.], v. 35, n. 1, p. 1-9, ago. 2017. ISSN 2145-8472. Disponible en: <http://revistas.uis.edu.co/index.php/revistaintegracion/article/view/6586>. Fecha de acceso: 18 oct. 2017 doi: https://doi.org/10.18273/revint.v35n1-2017001.
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Artículo Original