v. 30 n. 2 (2017): Revista ION
Artigos

Análise de falhas em chapa de aço silício em transformadores de distribuição. Efeito transformers área precedência

María Gabriela Mago
Programa de Ingeniería Mecánica, Facultad de Ingeniería. Universidad Libre
Luis Valles
Centro de Confiabilidad, Área de Estudios de Postgrado, Facultad de Ingeniería, Universidad de Carabobo
Jhon Jairo Olaya
Centro de Materiales y Procesos, Facultad de Ingeniería, Universidad Nacional de Colombia
Edgar Espejo
Centro de Materiales y Procesos, Facultad de Ingeniería, Universidad Nacional de Colombia
Pedro Arango
Laboratorio de Física del Plasma. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales, Universidad Nacional de Colombia
Mauricio Sierra
Programa de Ingeniería Mecánica, Facultad de Ingeniería. Universidad Libre

Publicado 2018-05-07

Palavras-chave

  • Análise de fracasso,
  • chapa de aço silício,
  • transformadores de distribuição,
  • DRX,
  • SEM-E

Como Citar

Mago, M. G., Valles, L., Olaya, J. J., Espejo, E., Arango, P., & Sierra, M. (2018). Análise de falhas em chapa de aço silício em transformadores de distribuição. Efeito transformers área precedência. REVISTA ION, 30(2), 87–98. https://doi.org/10.18273/revion.v30n2-2017008

Resumo

Análise de falha na chapa de aço silício em transformadores de distribuição apresenta um modelo baseado na microestrutura e propriedades magnéticas deste material de diagnóstico, com a qual o núcleo do monofásico pólo transformadores de distribuição é fabricado. Tais diagnósticos, estudos complementares para avaliar a vida destas equipas, comparando a qualidade dos materiais que são fabricados utilizando “métodos não convencionais” quando presentes condições de falha, aumentando a experiência em sistemas de distribuição de energia elétrica. O trabalho foi realizado utilizando técnicas de caracterização para a chapa de aço usando (difração de raios-X) ou DRX e MEV no ambiente (microscopia eletrônica de varredura) ou E-SEM permitindo uma visão mais clara dos fenômenos envolvidos o comportamento da chapa de aço silício. Embora realizado anteriormente amostras metalográficas de falha para verificar o tamanho do grão impurezas ou inclusões que pode ter afectado a qualidade do material durante a operação de equipamento de análise, de XRD é aplicada e a equação de Scherrer é usado, verificando o tamanho dos cristais (grãos) em escala nano, e, em seguida, com a fórmula perdas Steinmetz são avaliados devido à histerese magnética também afecta significativamente a operação. Total do núcleo são as perdas devido à presença de óxidos de Tipo D e alterações no tamanho do cristal (grão).

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